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能量色散X熒光檢測儀  型號： CIT-3000SM 
于礦山、選礦廠、冶煉廠、水泥等企業在生產過程中對產品質量進行監測； 
1.CIT-3000SM產品配置：  
 采用進口的美國AMPTEK航天技術的SI（PIN）半導體探測器系列  
 采用*數字脈沖采集電路及電源管理技術  
 采用進口X光管  
 采用專用的X射線發生器  
 采用RS232串口通訊  
 采用精密的系統控制電路和數字處理電路  
 采用專有的分析算法軟件模塊V2.0A  
 配備電腦  
 配備常用的制樣工具  
 配備壓片機  
 配備測試樣環  
 配備測試硬標樣  
    2. CIT-3000SM 技術指標： 
 分析元素范圍：Mg-U（主要是：Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd）；  
 元素含量分析范圍：1ppm -99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；  
 采用美國航天技術的Si (PIN)半導體探測器計數，配合數字脈沖處理技術；  
 測量范圍：1－30KeV；   
 管壓：0kV-30kV（激發源為 30KV-鎢靶微型X射線管）；  
 管流：5μA-200μA；（可減少整機功耗和降低輻射）；  
 整機功率：50W；  
 整機能量分辨率：150±5eV；  
 檢測時間： <200S；  
 工作環境溫度：溫度0-40℃；  
 工作環境相對濕度：≤99%（不結露）；  
 測量物質狀態：固體、粉末均可檢測，制樣簡單；  
 一體化設計，性能穩定，運行可靠，性價比高；操作簡單，測量時間短；